「新X線回析装置を用いた材料分析技術研修会」

日　時：平成31年3月8日（金）１3：3０～１5：3０

場　所：北海道立工業技術センター研修室・精密分析室

講　師：株式会社リガク　応用技術センター　白又勇士氏

参加者：10名

 

当センターでは、地域企業の皆さまが新製品開発や新技術開発を進めるうえで、勘や経験に頼るのではなく、高精度の分析や測定に基づき、開発を進めていただくために、各種試験分析機器を整備し、ひろく皆さまにご利用いただいております。そこで、新X線回析装置の機能や特徴をご紹介し、新X線回析装置を使った分析の研修会を開催しました。前半の部では、X線回析のビギナー向けに、X線の性質、X線と物資との相互作用、X解析現象等について説明があり、続いてX線回析法で物質を測定しデータを解析することで、物資のどのような情報が得られるのか、測定及び解析事例による説明がありました。後半の部では、卓上X線回析装置を使って粉末状無機材料の測定を行い、続いてMiniFlex Guidance というソフトウェアを使い、定性分析及び定量分析を行いました。サンプルには4つの化合物が含まれるという複雑なものでしたが、測定および解析に要した時間は30分にも満たない短い時間であり、そのスピーディーな測定と解析に受講者も驚いた様子でした。質疑応答では、活発な質問が多くあり大変有意義な研修会となりました。

（写真左）座学の様子　　　　　　　　　　　（写真右）装置実習の様子

 

 

 

微小部品／微小部位検査技術セミナー

【走査電子顕微鏡の産業利用と事例紹介】

～平成30年度【JKA補助事業】導入機器（走査電子顕微鏡）～

日　時：平成31年3月20日（水）１3：3０～１7：0０

場　所：北海道立工業技術センター研修室・精密分析室

講　師：日本電子株式会社　EP事業ユニット　EPアプリ　SEMチーム　河野林太郎氏

参加者：１２名

 

近年、電子部品、機械部品などの高度化が進み、製品の各部品の精度や状態への評価が厳しくなると共に、その組付け状態の検査を行うことが困難となってきています。工業技術センターでは、これらの技術課題に対応すべく、新しい走査電子顕微鏡をJKA補助事業により導入し、微小検査技術に関するセミナーを開催しました。最新の走査電子顕微鏡（SEM）と付属のEDS（エネルギー分散型X線分析）分析装置について紹介し、これらの装置の原理、使い方、解析・評価方法、産業利用/測定事例についても解説しました。

（写真左）座学の様子　　　　　　　　　　　（写真右）装置実習の様子